TY  - BOOK
ED  - Vdi/Vde Gesellschaft Mess Und Automatisierungstechnik
TI  - Metrologie in Der Mikro Und Nanotechnik Tagung Stuttgart, 12 Und 13 Februar 2003 
SN  - 3180916699
U1  - 620.50287 
PY  - 2003///
CY  - Dusseldorf : 
PB  - VDI Verlag GmbH, 
KW  - Mikrosystemtechnik Metrologie Kongresses
N1  - NN
UR  - https://eaklibrary.neduet.edu.pk:8443/catalog/bk/books/toc/3-18-091669-9.pdf
ER  -